Direct Ellipsometry Problem for the Substrate-Based Uniaxial Non-Homogeneous Film

Polarizer-surface-analyzer null ellipsometry for film-substrate systems

the algorithm for solving the inverse numerical range problem

برد عددی ماتریس مربعی a را با w(a) نشان داده و به این صورت تعریف می کنیم w(a)={x8ax:x ?s1} ، که در آن s1 گوی واحد است. در سال 2009، راسل کاردن مساله برد عددی معکوس را به این صورت مطرح کرده است : برای نقطه z?w(a)، بردار x?s1 را به گونه ای می یابیم که z=x*ax، در این پایان نامه ، الگوریتمی برای حل مساله برد عددی معکوس ارانه می دهیم.

Uniaxial anisotropy of organic thin films determined by ellipsometry

Principal angle, principal azimuth, and principal-angle ellipsometry of film-substrate systems

Spectroscopic Ellipsometry of Nanocrystalline Diamond Film Growth

With the retention of many of the unrivaled properties of bulk diamond but in thin-film form, nanocrystalline diamond (NCD) has applications ranging from micro-/nano-electromechanical systems to tribological coatings. However, with Young’s modulus, transparency, and thermal conductivity of films all dependent on the grain size and nondiamond content, compositional and structural analysis of the...